在晶圓上而非封裝內(nèi)測試 Si 和GaN/SiC 器件時，研發(fā)工程師和測試操作員面臨著收集高精度數(shù)據(jù)的一些挑戰(zhàn)。其中包括需要在高電壓下抗電弧的探針和系統(tǒng)、用于高電流的低電阻探針和晶圓接觸，以及對薄晶圓的特殊處理。同時，對“快速獲取準(zhǔn)確數(shù)據(jù)”的需求需要快速輕松地設(shè)置復(fù)雜的高功率測試配置，同時考慮到操作員和設(shè)備。Keysight的緊密集成儀器完善了系統(tǒng)，以提供測量精度和可重復(fù)性。

來自 FormFactor 的預(yù)先驗證、交鑰匙、綜合、集成的測量系統(tǒng)為重要的測試應(yīng)用提供安心和即時、開箱即用的生產(chǎn)力。

這些是免費提供的。FormFactor 的 IMS 解決方案不包括Keysight定價或集成費用的加價。

這個功率半導(dǎo)體器件表征系統(tǒng)建立在研發(fā)儀器領(lǐng)域和分析探針系統(tǒng)領(lǐng)域——FormFactor IMS-K-Power 的基礎(chǔ)之上。

配備 Keysight PDA 的全面、交鑰匙集成測量系統(tǒng) (IMS) 用于晶圓上研發(fā)功率半導(dǎo)體器件特性測量

業(yè)界有效率、準(zhǔn)確的功率半導(dǎo)體器件表征系統(tǒng)

實現(xiàn)高質(zhì)量測量的更快、更經(jīng)濟的途徑