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產(chǎn)品分類
- 全部
- 坐標(biāo)測量機：橋式測量機/水平臂測量機
- 便攜式測量：3D測量臂/激光追蹤器
- 表面測量儀器
- 視頻測量機器/輪廓投影儀/測量顯微鏡
- 3D激光掃描儀/激光輪廓掃描儀/3D數(shù)字轉(zhuǎn)換器
- 卡尺/深度計/高度儀表
- 外徑千分尺/測厚儀/厚度計
- 孔徑規(guī)
- 量塊/塞規(guī)/觸角儀
- 刻度盤指示器/千分表
- 精密水平儀
- 3D觸摸探針
- 激光千分尺
- 無損檢測(NDT):探傷儀/超聲波檢驗設(shè)備
- 無損檢測(NDT):涂層測厚儀/腐蝕儀表
- 無損檢測(NDT):X射線檢查機器
- 材料試驗機:壓縮/拉伸/彎曲
- 伸縮儀
- 硬度計
- 密度計
- 粘度計/流變儀
- 張力計：表面張力
- 濕度分析儀/濕度計
- 其它測量儀器
- 人工氣侯試驗室
- 試驗磚機
- 平衡機
- EMC/EMI測試平臺
- 場產(chǎn)生器（EMC/EMI測試）
- 負(fù)載組
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ANTON PAAR便攜式密度計DMA 35
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KS TOOLS卡尺300.0510
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HAHN+KOLB指示器33341 010
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HAHN+KOLB指示器33340010
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TESA徑表355E
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TESA比較儀TESA YA
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HAHN+KOLB卡尺31157-015
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FISCHER涂層測厚儀FGAB1.3
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FISHERFISCHER涂層測厚儀DELTASCOPE FMP30
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API三坐標(biāo)測量機GALAXY H
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API激光跟蹤儀Radian
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KLA - TENCOR光學(xué)表面分析儀CS20 系列
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WALTER數(shù)控3D光學(xué)坐標(biāo)測量機Helicheck Basic 3
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NIKON全自由度手持式掃描頭K-Scan MMDx
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MAHR深度規(guī)75P-50
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MAHR厚度規(guī)830A
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MAHR孔徑規(guī)44 F
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SARTORIUSSartorius AG片狀砝碼YCW系列
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MAHR千分表810
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Status Pro高精度水平儀μLevel
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